在國內，IGBT芯片工藝還處于前期研發階段，主要還是依靠進口芯片進行模塊封裝，國內僅有少數廠家對IGBT動態測試設備進行研制，但未形成產業化。對IGBT模塊的測試，有助于評估IGBT芯片的性能，這對于保證IGBT與整個裝置的長期安全可靠運行起到重要的作用。

　　IGBT動態參數測試儀采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。提供與機械手、探針臺、電腦的連接接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。系統可擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流的測試能力和增加測試品種范圍。自動快速測試可以滿足用戶大生產需要，故障率低也保證了用戶的生產效率。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試參數即可完成填表編程，操作人員不需具備計算機編程語言知識，使用簡捷方便。

　　測試系統組成部分：

　　1、開通時間測試單元

　　2、關斷時間測試單元

　　3、二極管反向恢復特性測試單元

　　4、一套自動恒溫氣動壓力夾具

　　5、PLC控制系統

　　IGBT動態參數測試儀可測試IGBT、SiC等開通、關斷、短路、柵極電荷以及二極管反向恢復各項動態參數，兼容單管、半橋、四單元、六單元、PIM等絕大多數封裝的IGBT模塊及DBC。這款半自動化測試設備，自動進出料，可按用戶需求定制更高電壓電流規格。